有相依关系的成败型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限

范大茵

应用数学学报 ›› 1995, Vol. 18 ›› Issue (4) : 601-607.

PDF(430 KB)
中国科学院数学与系统科学研究院期刊网
PDF(430 KB)
应用数学学报 ›› 1995, Vol. 18 ›› Issue (4) : 601-607. DOI: 10.12387/C1995074
论文

有相依关系的成败型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限

    范大茵
作者信息 +

THE CLASSICAL EXACT OPTIMAL CONFIDENCE LIMITS OF RELIABILITY FOR THE SERIES SYSTEM OF THE DEPENDENT PASS-FAIL COMPONENTS

    FAN DAYIN
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

EndNote

Ris (Procite)

Bibtex

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 1995, 18(4): 601-607 https://doi.org/10.12387/C1995074
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 1995, 18(4): 601-607 https://doi.org/10.12387/C1995074
中图分类号：

参考文献

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

参考文献

{{article.reference}}

基金

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(430 KB)

Accesses

Citation

Detail
段落导航
相关文章

/

〈 〉